日本Lambda Vision拉姆达显微圆二色性 CD 光谱测量系统LV-MCD

LV-MCD显微圆二色光谱系统,集成显微定位与高灵敏度PMT探测,实现微区(≥2μm)无损CD测量。提供紫外/可见双波段,专用于手性纳米材料、薄膜及晶体的局部光学表征。

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日本 Lambda Vision 拉姆达平面基板透射率反射率测量单元 LV-RTM

日本LambdaVisionLV-RTM是紧凑型平面基板透射/反射率测量单元。采用积分球设计,抗样品倾斜干扰,无需暗室。可测光谱、色度及OD值,重复性高,适用于光学薄膜及显示面板检测。

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日本Lambda Vision拉姆达 光纤光谱仪SA-100A

日本LambdaVisionSA-100A光纤光谱仪,覆盖220-1000nm波段。采用滨松CCD与Czerny-Turner光路,分辨率≤1nm。支持USB通讯与自动化集成,适用于光学镀膜、半导体及材料科研检测。

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日本Lambda Vision拉姆达光纤光谱仪SA-100VR

SA-100VR是双探测器光纤光谱仪,集成CCD与InGaAs传感器,覆盖220-1650nm宽波段。支持紫外至近红外全谱检测,适用于光学薄膜、半导体及新材料的全波段光谱分析。

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日本Lambda Vision拉姆达内置光源型光纤光谱仪SA-100W

SA-100W

SA-100W是内置氘卤光源的一体化光纤光谱仪,覆盖220-1000nm波段。具备USB供电、电子快门及高分辨率,支持透射/反射测量,适用于光学薄膜检测及产线监控。

日本Lambda Vision拉姆达显微分光反射显微镜LVmicro-RUR

LVmicro-RUR

LVmicro-RUR是显微分光反射系统,具备自动对焦与电动载台。独有透镜顶点测量算法,可精准检测曲面样品。支持微区反射/透射光谱及Mapping扫描,适用于光学镀膜、半导体薄膜表征。

Lambda Vision拉姆达绝对量子效率测量系统QE-SA100

QE-SA100

QE-SA100是紧凑型绝对量子效率测量系统,集成积分球与制冷CCD光谱仪。内置校准光源及观察相机,可精准捕获全荧光发射,适用于OLED、量子点等材料的量子效率测试。

进口Lambda Vision 拉姆达红宝石荧光压力监测系统 DAC2000

DAC2000

DAC2000是专为金刚石对顶砧设计的红宝石荧光测压系统。内置532nm激光与CCD相机,利用专用软件实时将荧光位移转换为压力值(0-100GPa),实现高压实验的无损原位精准标定。

日本 Lambda Vision 拉姆达显微拉曼光谱单元MicroRAM-300

MicroRAM-300

MicroRAM-300是高性能显微拉曼光谱仪,配备300mm焦距光学系统与制冷CCD,支持多激光源及三光栅切换。具备高分辨率与高信噪比,适用于半导体应力分析、微区异物鉴定及高压实验,兼顾实验室研究与产线集成。

授权代理Lambda Vision拉姆达高性能显微拉曼光谱单元

RAM 300

LambdaVisionMicroRAM-300是高端显微拉曼光谱仪,配备300mm焦距光学系统与制冷CCD,支持多激光源及三光栅切换。具备高分辨率与高信噪比,适用于半导体应力分析、微区异物鉴定及高压实验,兼顾实验室研究与产线集成。

日本进口Lambda Vision 拉姆达 光纤拉曼光谱单元RAM 200

RAM 200

LambdaVisionRAM200是高性能模块化光纤拉曼光谱仪,支持宏观原位与显微微区双模式检测。配备大光圈光学系统,弱信号采集能力强,适用于半导体、新材料研发及产线集成,兼具高性价比。

日本Lambda Vision 拉姆达低成本光纤拉曼光谱单元RAM 100

RAM 100

LambdaVisionRAM100是紧凑型光纤拉曼光谱仪,支持532/785nm激光。无需制样即可快速无损定性分析固液粉体,可选配相机定位。适用于半导体、新材料研发及产线集成检测,性价比高。

解决方案

Solution

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